电子产品温度冲击试验，快速温度变化试验测试实验室

2023/1/9 20:39:35 阅读：次

电子产品可靠性测试机构可以提供各类电工电子设备、军用设备、轨道交通设备、舰船电子设备、军用电子设备、计算机服务器设备、汽车电子设备、风力发电设备等行业提供全方位的可靠性环境适应性试验第三方检测服务。

一、温度冲击测试的目的温度冲击试验的目的：

工程研制阶段可用于发现产品的设计和工艺缺陷；产品定型或设计鉴定和量产阶段用于验证产品对温度冲击环境的适应性，为设计定型和量产验收决策提供依据；作为环境应力筛选应用时，目的是剔除产品的早期故障。

二、快速温度变化试验在实际应用中有两类：

一类为慢速的温度变化试验，其温度变化速率＜3℃/min（一般各标准经常选择参数为1℃/min），也既一般应用中的温度变化、温度循环、温度交变试验（此三类为一种试验）；

另一类为快速的温度变化试验，其温度变化速率≥3℃/min，也既一般应用中的快速温变试验。温度变化速率越快，考核越严酷。

三、温度循环试验_温度变化试验测试方案：

低温温度点-40℃，高温温度点：+50℃，高低温温度变化速率要求3℃/min,高低温温度点各保持2小时，循环10次；

以上是一种规定了温度变化速率的温度循环/温度变化试验，也可以根据需要，不要求温度变化的速率也是可以的，这就是常规的温度变化试验。

快速温度变化测试实验室开展电工电子、工控、通信、机电、铁路，风电，军工等行业产品的可靠性试验，电磁兼容试验，失效分析等。实验室拥有CNAS和CMA资质并具有第三方公正地位的专业检验机构。114检测网为客户提供科学的实验方案和强大的技术支持环境可靠性测试一站式服务

电子产品温度冲击试验，快速温度变化试验测试实验室

114检测网，一站式检验检测认证服务平台

上一条：环境应力筛选试验_可靠性EMC测试实验室下一条：北京可靠性实验室出具国家认可的中文或者英文检测报告

检测百科