电磁兼容静电放电敏感度试验,恒定加速度试验

 

静电放电敏感度试验可以给出微电路承受静电放电的能力。它是破坏性试验。

 

 

静电放电敏感度试验方法是模拟人体、设备或器件放电的电流波形，按规定的组合及顺序对微电路的各引出端放电。寻找出傲电路产生损伤的阀值静电放电电压。以微电路敏感电参数的变化量超过规定值的最小静电放电电压，作为微电路抗静电放电的能力的表征值。

 

 

 

恒定加速度试验目的是考核傲电路承受恒定加速度的能力。它可以暴露由微电路结构强度低和机械缺陷引起的失效。如芯片脱落、内引线开路、管壳变形、漏气等。

 

 

恒定加速度试验条件：在微电路芯片脱出方向、压紧方向和与该方向垂直的方向施加大于1 mm的恒定加速度，加速度取值范围一般取为49 000m／s：-1 225 000m／sV5 000~125 000z)之间。试验时微电路的壳体应刚性固定在恒定加速器上。