高低温测试流程及试验步骤_gb2423高低温测试标准_试验

 

 

1.预处理：将被测样品放置在正常的试验大气条件下，直至达到温度稳定。

 

2.初步检测：将测试样品与标准要求进行比较，满足要求后直接放入高低温试验箱。

 

3、样品断电时，试验样品应按标准要求放置在试验箱内，试验箱（室）内温度应降至-50℃，保持4小时；不要在样品通电状态下进行低温测试，这一步非常重要，因为芯片本身在通电状态下会产生 20℃因此，在通电状态下，通常更容易通过低温试验，必须先冻透，再通电试验。

 

4、114检测网在低温阶段结束后5min将试验样品转换为已调整的样品90℃保持在高温试验箱(室)内4h或者直到测试样品达到温度稳定，与低温测试相反，加热过程不断电，芯片内部温度保持高温，4小时后执行A、B测试步骤。

 

5、进行老化测试，观察是否存在数据对比错误。

 

6、高温和低温试验分别重复10次。

 

7、重复上述实验方法，以完成三个循环。根据样品的大小和空间的大小，时间可能略有误差。

 

8、恢复:试验样品从试验箱中取出后，应在正常试验大气条件下恢复，直至试验样品达到温度稳定。

 

9、后检测：根据标准中的损伤程度等方法评估检测结果。

 

 

 

 

 

　　114检测网依据标准GB/T 2423.1-2008 & IEC60068-2-1:2007、GB/T 2423.2-2008 & IEC60068-2-2:2007，按地区和使用场合不同，分别规定了不同温度等级的优先数值。

 

　　低温环境温度：一65℃，一55℃，一45℃，一40℃，一30℃，一25℃，一15℃，一10℃，一5℃，0℃，+5℃。

 

　　高温环境温度：+200℃，+175℃，+155℃，+125℃，+100℃，+85℃，+70℃，+65℃，+60℃，+55℃，+50℃，+45℃，+40℃，+35℃，+30℃。

 

　　温度的允许偏差范围均为±2℃。在试验样品温度达到稳定后，高、低温条件试验的持续时间根据需要从下列数据中选取：2H、16H、72H、95H等。

 

高低温测试适用于各类电子、电工、电器、塑胶、光纤、LED、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机等产品的耐高温、耐低温试验、检测产品在高低温环境下储存、运输和使用的适应性，安全性，持久性，精确性