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可靠性测试

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低温试验(低温试验标准)

2014/5/21 11:58:48  阅读:次  电话咨询:13691093503

低温试验(低温试验标准)

  低温试验

  -30±2℃环境中放置4h,常温下放置2h后, 各尺寸、绝缘电阻、耐压、按键功能、回路电阻符合正常要求,且外观无变形、翘曲、脱胶等异常现象。
  温度范围:-70℃~10℃。
  按GB/T 2423.1—89 《电工电子产品环境试验 第二部分:试验方法 低温试验》;
  GB/T 2423.22—87 《电工电子产品环境试验 第二部分:试验方法 温度变化试验方法》
  进行低温试验及温度变化试验。

本文标签:可靠性测试  

低温试验(低温试验标准)

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