GB/T 4937.2 低温贮存试验与可靠性检测

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GB/T 4937.2是半导体器件机械和气候试验方法系列标准中的重要组成部分，专门用于测试器件在极端低温贮存条件下的耐受能力。可靠性检测该试验将器件暴露于规定低温（通常为-40℃、-55℃或-65℃）下，持续时间为24小时、72小时或1000小时（长期贮存），期间器件不工作。

低温存放试验的对象与范围

低温存放试验的对象覆盖电工电子产品、电子元器件、整机设备、汽车电子部件、仪器仪表、包装件以及部分非金属材料。凡是产品寿命期内可能经历低温环境运输、贮存或使用的物品，均可纳入该试验范围。

按样品在试验中的状态，低温试验分为贮存与工作两种情形。贮存情形下样品不通电，考核耐受能力；工作情形下样品处于运行状态，验证功能指标是否保持。

需要区分的是，生物样本的低温保存、食品的低温储藏属于保存工艺范畴，与本文讨论的工程类环境试验在目的、设备与判定方式上并不相同。两类应用不宜混用同一套试验方法。

标准依据与严酷等级

电工电子产品的低温试验方法在GB/T 2423.1中规定，与国际标准IEC 60068-2-1的试验A相对应。军用装备的低温试验执行GJB 150.4A。汽车、轨道交通等行业另有各自的标准体系，选用时应以产品规范为准。

严酷等级由温度与时长两个要素构成。标准列出的常用温度等级包括-10℃、-25℃、-40℃、-55℃与-65℃，时长档位常见的有2h、16h、72h与96h。具体取值依据产品预期的贮存与使用环境确定。

等级选择并非越高越好。条件过严会把正常产品误判为不合格，条件过宽则起不到考核作用。等级与时长还直接影响设备占用时间与检测投入，应结合环境剖面与技术协议权衡。

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