跌落测试 跌落测试标准
电磁兼容试验项目, 北京高低温试验及电磁兼容测试实验室 国家重点实验室本试验通常是主要用来模拟未包装/包装的产品在搬运期间可能受到的自由跌落,考察产品抗意外冲击的能力。通常跌落高度大都根据产品重量以及可能掉落
北京高低温试验及电磁兼容测试实验室 国家重点实验室本试验通常是主要用来模拟未包装/包装的产品在搬运期间可能受到的自由跌落,考察产品抗意外冲击的能力。通常跌落高度大都根据产品重量以及可能掉落机率做为参考标准,落下表面应该是混凝土或钢制成的平滑、坚硬的刚性表面(如有特殊要求应以产品规格或客户测试规范来决定)。
对于不同国际规范即使产品在相同重量下但掉落高度也不相同,对于手持型产品(如手机, MP3等)大多数掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等,IEC对于≦2kg之手持型产品建议应满足100cm之掉落高度不可损坏,MIL则建议掉落高度为122cm,Intel对手持型产品(如手机)则建议落下高度为150cm。试验的严苛程度取决于跌落高度、跌落次数、跌落方向。
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