北京低温可靠性试验服务
可靠性测试项目,北京低温可靠性试验服务-GB/T 2423.1-2008/IEC60068-2-1:2007电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温试验
本标准所涉及的低温试验适用于非散热和散热里
北京低温可靠性试验服务-GB/T 2423.1-2008/IEC60068-2-1:2007电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温试验
本标准所涉及的低温试验适用于非散热和散热里两类试验样品.本标准仅限于用来考核确定电工,电子产品(包括元件,设备及其他产品)在低温环境条件下贮存和使用的环境适应性.
低温试验不能用来考核试验样品对温度变化的耐抗性和在温度变化期间的工作能力,在这种情况下,应选择温度变化试验方法.
非散热试验样品的低温试验:温度突变和温度渐变试验2种类型;
散热试验样品的低温试验: 温度渐变试验一种类型.
本试验方法通常用于条件试验期间能达到温度稳定的试验样品.试验持续时间从试验样品温度达到稳定时开始计算.在特殊情况下,如果条件试验期间试验样品达不到温度稳定,则试验持续时间从试验箱达到规定试验温度时开始计算.
非散热试验样品温度突变或温度渐变的低温试验严酷等级的选择:
零下65摄氏度
零下55摄氏度
零下40摄氏度
零下25摄氏度
零下10摄氏度
零下5摄氏度
零上5摄氏度
温度范围可以正负偏差3度,试验的持续时间一般有:2h,16h,72h,96h.或根据产品自身的使用环境选择试验时间。若试验目的仅仅是检查试验样品在低温时是否正常工作，则试验的时间只限于使样品温度达到稳定。
散热试验样品的温度渐变试验和非散热试验样品的低温试验试验条件一致。
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