军工电子产品高低温湿热测试环境试验
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军工电子产品设备高低温湿热测试实验室主要提供的检测项目：高温贮存、低温贮存、低温工作、高温工作、温度冲击、盐雾、淋雨、沙尘、自由跌落、振动、湿热、机械冲击、霉菌、太阳光辐射等等。
1.高温贮存试验：
贮存温度：+65℃；
稳定时间：48小时；
测试指标：恢复到常温进行外观和性能检查。
2.高温工作试验：
工作温度：+50℃；
温度时间：24小时；
测试指标：测试过程中考查产品的性能。
3.低温贮存试验：
贮存温度：-50℃；
稳定时间：24小时；
测试指标：恢复到常温进行外观和性能检查。
4.低温工作试验：
工作温度：-40℃；
温度时间：24小时；
测试指标：测试过程中考查产品的性能。
5.温度冲击试验：
测试温度：-50℃~+65℃；
温度稳定时间：达到高温、低温条件时各保持2小时；
温度转换时间：小于3min.
测试指标：试验完成后测试产品的性能是否完好。
6.盐雾试验：
温度：35℃，盐溶液浓度5％；
喷雾方式：24小时喷雾，24小时干燥；
循环次数：2次，共计96小时；
测试指标：样品表面无明显锈蚀，涂层无明显脱落。
7.振动试验：
振动方向：X、Y、Z三个相互垂直方向；
振动时间：3小时（每方向1小时）；
振动条件：GJB50.16A-2009中模拟运输振动条件C1曲线；
测试指标：考查产品外观结构无损坏，上电能正常工作。
8.自由跌落试验：
跌落高度：1.2米；
跌落方向：面、角、楞各跌落1次；
测试指标：考查产品外观结构无损坏。
9.湿热试验：
试验条件：湿度95％，温度60℃，按GJB150.9A-2009标准进行；
试验时间：每个周期为24小时，共计10个周期240小时；
中间检测：在第5个或第10个循环周期的末尾进行性能测试；
测试指标：外观结构完好，上电测试产品的性能。
10.机械冲击试验：
冲击波形：半正弦波；
冲击方向：三个相互垂直的方向，x、y、z向；
冲击次数：每方向冲击3次，共计9次冲击；
测试指标：试验后外观结构完好，上电能正常工作。
（二）军品测试实验室环境试验常用检测依据：
1.低温试验
舰船电子设备环境试验 低温贮存试验 GJB 4.4-1983
舰船电子设备环境试验 低温试验 GJB 4.3-1983
军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009
军用计算机通用规范 GJB 322A-1998
军用通信设备通用规范 GJB 367A－2001
军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验 GJB 150.4A-2009
2.高温试验
舰船电子设备环境试验 高温试验GJB 4.2-1983
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009
军用计算机通用规范 GJB 322A-1998
军用通信设备通用规范 GJB 367A－2001
军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验 GJB 150.3A-2009
3.交变湿热试验
舰船电子设备环境试验 交变湿热试验 GJB4.6-1983
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009
军用通信设备通用规范 GJB 367A－2001
军用装备实验室环境试验方法 第9部分：湿热试验 GJB 150.9A-2009
4.恒定湿热试验
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009
军用计算机通用规范 GJB 322A-1998
5.振动试验
军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009
军用计算机通用规范 GJB 322A-1998
军用通信设备通用规范 GJB 367A－2001
军用装备实验室环境试验方法 第16部分：振动试验 GJB 150.16A-2009
舰船电子设备环境试验 振动试验 GJB 4.7-1983
电子产品环境应力筛选方法 GJB 1032-1990
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
6.温度变化
电子产品环境应力筛选方法 GJB 1032-1990
军用计算机通用规范 GJB 322A-1998
军用通信设备通用规范 GJB 367A－2001
7.跌落试验
军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009
军用计算机通用规范 GJB 322A-1998
军用通信设备通用规范 GJB 367A－2001
军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验 GJB 150.18A-2009
8.机械冲击
舰船电子设备环境试验 冲击试验 GJB 4.9-1983
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009
军用计算机通用规范 GJB 322A-1998
军用通信设备通用规范 GJB 367A－2001
军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验GJB150.18A-2009
9.盐雾试验
舰船电子设备环境试验 盐雾试验 GJB 4.11-1983
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009
军用计算机通用规范 GJB 322A-1998
军用通信设备通用规范 GJB 367A－2001
军用装备实验室环境试验方法 第11部分：盐雾试验 GJB150.11A-2009
10.温度冲击试验
军用计算机通用规范 GJB322A-1998
电子及电气元件试验方法GJB360B-2009
军用通信设备通用规范 GJB367A－2001
军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验 GJB150.5A-2009
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