电子元器件低气压试验_低温低气压综合试验

2020/7/21 11:16:26  阅读数：648  立即咨询

随着航天航空和海洋开发事业的迅速发展，随着电工电子产品在各个方面的广泛应用，产品所遇到的环境条件变得日益复杂和多样,大气压力的变化就是其中之一。IEC 60068-2-41低气压试验低温低气压综合试验介绍

 

一、低气压试验目的

低气压试验是确定产品在低气压气候环境下储存、运输、使用的适应性。

低气压试验的严苛程度取决于温度、气压和曝露持续时间。

 

二、低气压试验的国家标准有：

GB2421-1989《电工电子产品基本环境试验规程总则》

 

GB2423.21-1991《电工电子产品基本环境试验规程试验 M：低气压试验方法》

 

GB/T2423.25-1992《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM：低温/低气压综合试验方法》

 

GB/T2423.26-1992《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM ：高温/低气压综合试验方法》

 

GB2423.27-2005《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD：低温/低气压/湿热连续综合试验方法》

 

GB/T2424.15-1992《电工电子产品基本环境试验规程温度/低气压综合试验导则》

 

GJB150.2-86 《军用设备环境试验方法 低气压（高度）试验》

 

本中心的低气压试验箱，温度范围覆盖－70℃至150℃，气压范围覆盖0.2kPa至101kPa要用于考核航空航天装备、电子元器件或者其他产品在低气压、温湿度综合作用下的可靠性，可开展低气压试验、高温低气压、低温低气压、快速减压试验等试验项目。

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