高低温测试流程及试验步骤_gb2423高低温测试标准_试验
2022/9/10 10:16:57 阅读数:163 立即咨询
高低温测试试验是用来确认产品在温湿度气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高/低温、湿度和曝露持续时间。
1.预处理:将被测样品放置在正常的试验大气条件下,直至达到温度稳定。
2.初步检测:将测试样品与标准要求进行比较,满足要求后直接放入高低温试验箱。
3、样品断电时,试验样品应按标准要求放置在试验箱内,试验箱(室)内温度应降至-50℃,保持4小时;不要在样品通电状态下进行低温测试,这一步非常重要,因为芯片本身在通电状态下会产生 20℃因此,在通电状态下,通常更容易通过低温试验,必须先冻透,再通电试验。
4、114检测网在低温阶段结束后5min将试验样品转换为已调整的样品90℃保持在高温试验箱(室)内4h或者直到测试样品达到温度稳定,与低温测试相反,加热过程不断电,芯片内部温度保持高温,4小时后执行A、B测试步骤。
5、进行老化测试,观察是否存在数据对比错误。
6、高温和低温试验分别重复10次。
7、重复上述实验方法,以完成三个循环。根据样品的大小和空间的大小,时间可能略有误差。
8、恢复:试验样品从试验箱中取出后,应在正常试验大气条件下恢复,直至试验样品达到温度稳定。
9、后检测:根据标准中的损伤程度等方法评估检测结果。
如果测试过程中没有正常工作,则视为测试失败。
试验参数:
114检测网依据标准GB/T 2423.1-2008 & IEC60068-2-1:2007、GB/T 2423.2-2008 & IEC60068-2-2:2007,按地区和使用场合不同,分别规定了不同温度等级的优先数值。
低温环境温度:一65℃,一55℃,一45℃,一40℃,一30℃,一25℃,一15℃,一10℃,一5℃,0℃,+5℃。
高温环境温度:+200℃,+175℃,+155℃,+125℃,+100℃,+85℃,+70℃,+65℃,+60℃,+55℃,+50℃,+45℃,+40℃,+35℃,+30℃。
温度的允许偏差范围均为±2℃。在试验样品温度达到稳定后,高、低温条件试验的持续时间根据需要从下列数据中选取:2H、16H、72H、95H等。
高低温测试适用于各类电子、电工、电器、塑胶、光纤、LED、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机等产品的耐高温、耐低温试验、检测产品在高低温环境下储存、运输和使用的适应性,安全性,持久性,精确性
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低温环境温度 高温环境温度 高低温实验室 高低温测试试验 高低温实验室测试
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