高低温测试实验室,高低温实验室测试的试验步骤

2023/1/18 11:45:53  阅读数:102  立即咨询

北京高低温测试是用来确认产品在温湿度气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高/低温、湿度和曝露持续时间,下面高低温测试机构给大家讲讲高低温测试的原理是什么?

 

高低温实验室测试的试验步骤:

预处理:将被测样品放置在正常的试验大气条件下,直至达到温度稳定。

初步检测:将测试样品与标准要求进行比较,满足要求后直接放入高低温试验箱。

样品断电时,试验样品应按标准要求放置在试验箱内,试验箱(室)内温度应降至-50℃,保持4小时;不要在样品通电状态下进行低温测试,这一步非常重要,因为芯片本身在通电状态下会产生20℃因此,在通电状态下,通常更容易通过低温试验,必须先冻透,再通电试验。

 

在低温阶段结束后5min将试验样品转换为已调整的样品90℃保持在高温试验箱(室)内4h或者直到测试样品达到温度稳定,与低温测试相反,加热过程不断电,芯片内部温度保持高温,4小时后执行A、B测试步骤。

进行老化测试,观察是否存在数据对比错误。

高温和低温试验分别重复10次。

重复上述实验方法,以完成三个循环。根据样品的大小和空间的大小,时间可能略有误差。

恢复:试验样品从试验箱中取出后,应在正常试验大气条件下恢复,直至试验样品达到温度稳定。

后检测:根据标准中的损伤程度等方法评估检测结果。

 

 
GJB150.3A-2009高温试验
 
高温试验分为:高温贮存试验(恒温贮存至少贮存2小时、循环贮存至少贮存168小时)、高温工作试验(恒温工作至少工作2小时,循环工作至少工作72小时)
 
高温试验条件的主要参数包括:试验温度点、时间持续时间、温度变化速率(不超过3℃/min)
 
 
GJB150.4A-2009低温试验
 
低温试验分为:低温贮存(没有特殊要求,推荐24小时)、低温工作(至少工作2小时)、拆卸操作(一般也是2小时)
 
低温试验条件的主要参数包括:试验温度点、时间持续时间、温度变化速率(不超过3℃/min)
 
 
GJB150.5A-2009温度冲击试验
 
温度冲击试验分为:恒定极值温度冲击和高温循环的温度冲击。一般用恒定极值的温度冲击比较多。循环次数至少为3次。
 
温度冲击试验条件的主要参数包括:高温温度点、低温温度点、温度转换时间(标准要求1min以内从低温转化到高温)、高低温极值的保持时间、循环次数。
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