温度冲击试验(环境可靠性)测试实验室,GJB150.5A-2009
2024/1/11 14:39:41 阅读数：74 立即咨询
温度冲击试验项目介绍本试验是确定产品在温度急剧变化的气候环境下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高/低温、驻留时间、循环数。
一、温度冲击试验目的：
确定测试产品在周围大气温度急剧变化时的适应性及被破坏性。
二、温度冲击试验条件：
高温箱：RT~150℃，低温箱：RT~-40℃，试验温度保持时间：1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长者为准，循环次数：针对各个不同行业不同厂家所对应的试验要求不一样，按照标准上的试验方法测试。
三、温度冲击试验恢复：测试产品从冷热冲击箱内取出后，应在正常的试验大气条件下进行恢复，直至试验样品达到温度稳定。
四、温度冲击箱参照标准：GB/T2423.1.2、GB/T2423.2、GB10592、GJB150.3、GJB150.4
温度冲击应用范围
五、高低温冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，都会用到，是各领域对产品测试的必不可少的一项测试箱。
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