由于可靠性测试寿命试验费时较多，通常不待受试样品全部失效就要结束，即大部分寿命试验都是截尾试验。根据试验截尾方式(固定试验时间或固定试验中失效样品数)和受试样品失效后有无替换，寿命试验可分为四种：①无替换定时截尾试验;②有替换定时截尾试验;③无替换定数截尾试验;④有替换定数截尾试验。在电子产品寿命试验中，最常用的寿命分布为指数分布、威布尔分布和对数正态分布。可靠性测试最常用的寿命试验数据统计分析方法有概率纸图解法、最大似然估计法、最佳线性无偏估计法、最佳线性不变估计法等。

 

　　所谓筛选，就是设法除去在材料、元件、器件、设备、系统等方面潜在的不良因素和缺陷，而把优良的产品挑选出来。采用外加应力或其他手段将成品中潜在的早期失效产品剔除的试验称为可靠性筛选。外加应力可以是热应力、电应力、机械应力或者几种应力的组合，筛选应力大小和作用时间的选取原则是：①针对产品的主要失效机理;②所用的应力对于良好的产品应无破坏作用，而对于有缺陷的产品应能使缺陷很快暴露;③根据用途、成本、产品批量大小和试验设备等条件统一考虑，力求最佳的经济效果;④充分调查，收集数据，掌握产品的失效分布和失效机理，才能确定合理的筛选项目。最常见的筛选方法有:①目检(显微镜镜检、X射线照相、红外扫描等);②电性能测试;③密封检漏;④环境应力筛选(恒定加速、机械振动、冲击、温度循环、热冲击等);⑤寿命筛选(高温储存、功率老化、高温反偏等)。